LEXT OLS4100 激光扫描共焦显微镜
概述
LEXT OLS4100是一款激光扫描显微镜，通过非接触的方式进行样品表面三维形貌观察和测量。最高分辨率达10nm，可以方便快捷地获取影像，同时配备丰富的测量功能。
卓越的测量
更大的样品范围
轻松检测85° 尖锐角
高度分辨率10 nm，轻松测量微小轮廓
克服反射率的差异
适用于透明层：多层模式、观察／测量透明材料的各个层
工业领域首创* 的两项性能保证
正确性和重复性
追溯体系
更多的测量类型：高度测量、表面粗糙度测量、面积／体积测量、粒子测量 (选购件)、几何测量、膜厚测量 (选购件)、 自动寻边测量 (选购件)
OLYMPUS Stream (选购件)：工作流程解决方案，实现了优秀的图像分析性能
更精准的粗糙度测量：LEXT OLS4100 参数（详询）、微细粗糙度、非接触式测量、微米级特征的测量
高画质影像
清晰鲜明的3D 彩色影像：三种类型的综合影像、再现自然色
更加真实地再现表面, 激光DIC（激光微分干涉）
亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR（高动态范围）影像
稳定测量和成像环境
直观的GUI 实现系统化的工作流程
简易的三步流程
始终明白"身在何处"：宏观图功能、快速的宏观图拼接
用于简易3D 成像的智能扫描：自动3D 影像获取、更快的扫描速度、只在所需区域进行高速获取
全新的高速拼接模式：从大范围拼接影像中指定目标区域、手动指定所需的影像区域、快速影像拼接
一键操作定制报表
目标的一键解决方案
另有更多可选产品、详情请联系我们销售部门，了解适合您具体需求和预算的解决方案。
